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2022-11-24
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2022-08-29
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纺织品抗静电性测试方法及标准
在现代社会中,纺织品因其广泛应用而备受关注,但静电问题往往会带来诸多困扰,如吸附灰尘、导致皮肤不适甚至引发火花等。为了确保纺织品的抗静电性能,制定了多种测试方法和标准。本文将介绍纺织品抗静电性测试的常见方法、检测指标及相关标准。
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材料防静电性能检测的标准与方法
防静电性能检测是确保电子产品制造与应用系统中材料和设备的安全与可靠性的重要环节。静电的积累和释放可能对电子元件造成损坏,甚至引发火灾等安全事故。本文将介绍材料防静电性能检测的标准、检测指标以及相应的检测项目和指标限值
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光电二极管AEC-Q102测试介绍
为了确保光电二极管在汽车环境中的可靠性和性能,汽车电子委员会(AEC)制定了AEC-Q102认证标准。AEC-Q102标准是基于失效机制的汽车光电半导体应力测试规范,适用于LED灯珠、光电二极管、光电晶体管、激光组件等光电半导体器件。通过AEC-Q102认证不仅是对产品质量的认可,也是企业进入汽车市场的重要资质之一。
07-30
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详解MOSFET AEC-Q101认证测试项目及方法
MOSFET的AEC-Q101认证过程旨在确保最高标准的可靠性和性能,特别是在苛刻的汽车环境中。通过将MOSFET器件置于这些严格的测试中,制造商可以自信地保证其产品的耐用性和运行稳定性,从而满足汽车行业的关键需求。
07-30
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X-RAY检测在芯片失效分析中的应用与优势
随着芯片结构的不断复杂化,芯片产品在研制、生产和使用过程中发生失效是不可避免的。为了更好地分析和解决这些失效问题,多种检测手段被应用于芯片失效分析中,其中X-RAY检测是一种常规且有效的分析手段。
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电子元器件金相切片分析服务介绍
金相切片(也称为cross-section或x-section)是一种重要的电子元器件检测方法。通过使用特制液态树脂将样品包裹固封,接着进行研磨和抛光,从而制备样品以进行进一步的显微观察。这种方法广泛应用于电子元器件的焊接质量检测以及失效分析。
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