车用光电半导体AEC-Q102认证机构

服务简介

江苏粤科检测是专业第三方AEC-Q102认证机构，实验室具备AEC-Q102标准CNAS全项测试资质和测试能力，致力于为LED上中下游产品提供创新的AEC-Q102认证解决方案，并通过AEC-Q102规范协助LED厂商找出设计不良导致失效的原因。我们提供专业的磊晶、元件、模块以及LED灯具完整的分析服务，帮助LED厂商快速找到失效问题点并提供解决方案。

服务产品

LED、激光组件、激光元件、光电二极管、光电晶体管、发光二极管、光导管、光电池、光电三极管、热敏电阻、温差发电器、温差电致冷器、光敏电阻、红外光源、光电耦合器、发光数字管、使用光电功能和其他组件（例如带集成电路的 LED、带光电二极管的激光组件、光耦）的多芯片模块。

分立光电半导体AEC-Q102认证.jpg

测试项目及方法

序号	测试项目	缩写	检测方法
A 加速环境应力试验
A1	预处理	PC	JEDEC JESD22-A113
A2a	高温湿工作寿命1	WHTOL1	JEDEC JESD22-A101
A2b	高温湿工作寿命2	WHTOL2	JEDEC JESD22-A101
A2c	高湿度高温反向偏压	H³TRB	JEDEC JESD22-A101
A3a	功率温度循环	PTC	JEDEC JESD22-A105
A3b	间歇使用寿命	IOL	MIL-STD-750-1 Method 1037
A4	温度循环	TC	JEDEC JESD22-A104
B 组加速寿命应力试验
B1a	高温湿工作寿命1	HTOL1	JEDEC JESD22-A108
B1b	高温湿工作寿命2	HTOL2	JEDEC JESD22-A108
B1c	高温反向偏压	HTRB	JEDEC JESD22-A108
B2	低温使用寿命	LTOL	JEDEC JESD22-A108
B3	脉冲寿命	PLT	JEDEC JESD22-A108
C 组封装组合完整性测试
C1	破坏性物理分析	DPA	Appendix 6
C2	物理尺寸	PD	JEDEC JESD22-B100
C3	绑线强度	WBP	MIL-STD-750-2Method 2037
C4	绑线剪切	WBS	JESD22-B116
C5	芯片剪切	DS	MIL-STD-750-2Method 2017
C6	端子强度	TS	MIL-STD-750-2Method 2036
C7	凝露	DEW	AEC-Q102-001
C8	耐焊接热	RSG（-wave）	Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005
C9	热阻	TR	JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52
C10	可焊性	SD	JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole)
C11	晶须生长	WG	AEC-Q005
C12	硫化氢	H2S	IEC 60068-2-43
C13	混合气流测试	FMG	IEC 60068-2-60 Test method 4
C14	板弯曲	BF	AEC-Q102-002
E 组光电验证试验
E0	目检	EV	JEDEC JESD22-B101
E1	应力前后电气和光度试验	TEST	Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification
E2	参数验证	PV	individual AEC user specification
E3	静电放电特性 HBM	HBM	ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
E4	静电放电特性 CDM	CDM	AEC-Q101-005
G 组空腔封装完整性测试
G1	恒定加速度	CA	MIL-STD-750-2Method 2006
G2	变频振动	VVF	JEDEC JESD22-B103 Condition 1
G3	机械冲击	MS	JEDEC JESD22-B110
G4	密封性	HER	JEDEC JESD22-A109