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文章来源 : 粤科检测 发表时间：2023-05-09 浏览量:
AEC-Q101对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了规范。AEC-Q101认证不仅是对元器件可靠性的国际通用报告，更是打开车载供应链的敲门砖。
AEC-Q101认证为汽车级半导体分立器件应力测试，主要对汽车分立器件，元器件标准规范要求，如：车用光电耦合器：用于车用隔离件、接口转换器，光电耦合器（TLX9304、TLX9378、TLX9376），触摸屏控制盘，整卷分立器件等。
AEC-Q101认证包含了离散半导体元件（如晶体管，二极管等）最低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。根据AECQ101认证规范，离散半导体的最低温度的范围应为-40℃ ~ +125℃，所有LED的最小范围应为-40℃到85℃。
| 序号 | 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| A组 加速环境应力测试 ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS | |||
| A1 | 预处理 Preconditioning | PC | JEDECIPCJ-STD-020 JESD22-A113 |
| A2 | 高加速应力测试 | HAST | JEDECJESD22-A110 |
| A2alt | 高温高湿反向偏压 | H3TRB | JEDEC JESD22- A101 |
| A3 | 无偏加速应力测试 | UHAST | JEDECJESD22-A118.or A101 |
| A3alt | 高压测试 | AC | JEDECJESD22-A102 |
| A4 | 温度循环 | TC | JESD22-A104 附录 6 |
| A4a | 温度循环热试验 | TCHT | JESD22-A104 附录 6 |
| A4alt | 温度循环分层测试 | TCDT | JESD22-A104 附录 6J-STD-035 |
| A5 | 间歌运行寿命 | IOL | ML-STD-750 方法 1037 |
| A5alt | 功率和温度循环 | PTC | JESD22-A105 |
| B 组 加速寿命模拟测试 ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS | |||
| B1 | 高温反向偏压 | HTRB | MIL-STD-750-1 M1038 condition A (for diodes, rectifiers and Zeners) M1039 condition A (for transistors) |
| B1a | 交流阻断电压 | ACBV | MIL-STD-750-1 M1040 condition A |
| B1b | 稳态操作 | SSOP | MIL-STD-750-1 M1038 condition B (Zeners) |
| B2 | 高温栅极偏压 | HTGB | JEDECJESD22-A108 |
| C 组 封装结构完整性测试 PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS | |||
| C1 | 破坏性物理分析 | DPA | AEC-Q101-004 章节4 |
| C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
| C3 | 邦线拉力强度 | WBP | ML-STD-750-2 Method 2037 for Au and AI wire AEC-Q006 for Cu wire |
| C4 | 邦线剪切强度 | WBS | AEC-Q101-003 JESD22-B116 |
| C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2 Method 2017 |
| C6 | 端子强度 | TS | MIL-STD-750-2 Method 2036 |
| C7 | 耐溶剂性 | RTS | JEDEC JESD22-B107 |
| C8 | 耐焊接热 | RSH | JEDEC JESD22-A111(SMD) or B106(PTH) |
| C9 | 热阻 | TR | JEDEC JESD24-3,24-4,24-6 as appropriate |
| C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 |
| C11 | 晶须生长评价 | WG | AEC-Q005 |
| C12 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2 Method 2006 |
| C13 | 变频振动 | VVF | JEDEC JESD22-B103 |
| C14 | 机械冲击 | MS | JEDEC JESD22-B104 |
| C15 | 气密性 | HES | JEDEC JESD22-A109 |
| D 组 芯片制造可靠性测试 DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS | |||
| D1 | 介电性 | Dl | AEC Q101-004 Section 3 |
| E组 电气特性确认测试 ELECTRICAL VERIFICATION TESTS | |||
| E0 | 目检 | EV | JESD22-B101 |
| E1 | 应力测试前后功能/参数 | TEST | 客户规范或供货商标准规范 |
| E2 | 参数验证 | PV | AEC客户规范 |
| E3 | ESD HBM 特性描述 | ESDH | AEC-Q101-001 |
| E4 | ESD CDM 特性描述 | ESDC | AEC-Q101-005 |
| E5 | 无钳位感应开关 | UIS | AEC-Q101-004 Section 2 |
| E6 | 短路可靠性 | SCR | AEC-Q101-006 |
优科实验室在汽车电子工业服务方面拥有15年的经验，曾协助多家汽车分立半导体企业制定符合AEC-Q101标准的验证步骤和实验方法，帮助这些厂商进入车厂供应链，缩短与采购商的沟通时间，推动产品品质的提高和可交换性。
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