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江苏粤科检测是专业第三方电子元器件检测机构，现已建成JG电子、汽车电子、集成电路等检测中心，可提供电子元器件及零部件的安规认证、二次筛选、车规级认证（AEC-Q100/101/102/103/104/200）、DPA测试、失效分析、可靠性验证等检测认证服务。接下来为大家介绍元器件可靠性试验方法的国内外标准。

元器件可靠性试验方法的国内外标准

1、中国国家标准 GB

GB/T 15297-1994：微电路模块机械和气候试验方法

GB/T 4937-1995：半导体器件机械和气候试验方法

GB/T 2423.44-1997：电工电子产品环境试验

2、中国国家军用标准 GJB

GJB 128A-97：半导体分立器件试验方法

GJB 360A-96：电子及电气元件试验方法

GJB 548B-2005：微电子器件试验方法和程序

GJB 1217-91：电连接器试验方法

3、日本工业标准

JISC 7022：半导体集成电路的环境和疲劳试验方法 JISC7030：品体管试验方法

JISC 7031：小信号半导体二极管试验方法

JISC 7033：整流二极管试验方法

JISC 7021：半导体分立器件的环境和疲劳试验方法

JISC 5020：电子设备用元件的耐候性及机械强度试验方法通则

JISC 5003：电子设备用元件的失效率试验方法通则

4、日本电子机械工业协会标准

SD-121：半导体分立器件的环境及疲劳性试验方法

IC-121：集成电路的环境及疲劳性试验方法 

5、国际电工委员会标准 IEC

IEC60749：半导体器件机械和气候环境试验方法

6、英国标准 BS

BS 9300：半导体器件试验方法

BS 9400：集成电路试验方法

7、美国军用标准 MIL

MIL-STD-202E：电子、电气元件试验方法

MIL-STD-750D：半导体器件试验方法

MIL-STD-883G：微电子器件试验方法和程序

8、美国电子器件工程联合会标准 JEDEC

JESD22-A101-B：稳态温度湿度偏压寿命试验方法

JESD22-A103C：高温贮存试验方法 COM 

JESD22-A110-B：高加速温度湿度应力试验方法

JESD74：早期失效计算方法

JESD-020C：非密封表贴器件潮湿敏感度等级评价方法

第三方元器件可靠性试验检测机构

江苏粤科检测专注于为电子、电器、新能源、汽车电子、航天航空等行业企业提供检测、认证及技术咨询服务，打造专业的电子元器件全生命周期服务平台。我们致力成为产品发展的引导者和严谨测试的维护者，为客户产品提供最佳的技术解决方案。

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