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文章来源 : 粤科检测 发表时间:2023-09-07 浏览量:
AEC-Q车规认证振动、冲击测试的目的是对汽车用电子元器件进行评价,其目的在于测定零件对因运输或现场作业而发生的移动所造成的中度至重度震动冲击的承受能力。这类振动冲击有可能对工作特性产生干扰。尤其是反复应力,可使零件发生疲劳破坏。振动冲击测试是部件鉴定破坏性试验之一。
在进行振动,冲击试验时,夹具最重要的作用就是把振动和冲击台所产生的能量转移到试件上,优秀的夹具至少要达到以下几个方面:
1、能方便的将试件固定到台面上;
2、整个测试频率区间夹具频响特性应该平缓,夹具第一阶固有频率应该大于最高测试频率,应该避免夹具和产品共振耦合;
3、夹具和产品连接面各连接点对应应尽可能保持一致,保证测试中激励输入均匀;
4、夹具的刚度和质量比要足够大。
接受条件:0失效
测试方法:JEDEC JESD22-B103
标准 | 测试对象 | 测试数量 | 测试条件 |
AEC-Q100 | 集成电路 | 15 | 仅Y1平面,5次冲击,脉冲持续时间0.5ms峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。 |
AEC-Q101 | 离散半导体 | 仅针对密封件 | 1500g,0.5ms,5次/万向,XYZ共30次,前后都要测试电气参数 |
AEC-Q102 | 离散光电半导体器件 | 3批次中各取10人 | 1500g,0.5ms,5击,3次/方向。 在MS前和MS后的测试,或仅在CA前和MS后进行测试 |
AEC-Q103-002 | 微机电系统 (MEMS)压力传感器器件 | 3批次中各取39人 | M1级: - 测试条件:每轴双向5个脉冲,0.3ms持续时间,6000g峰值加速度等级M2: - 测试前:下列每次测试#G3的恒定加速度(CA) - 测试条件:每轴双向10个脉冲,0.3ms持续时间,6000g峰值加速度 -替代测试条件:依照任务剖面 (安装位置定义的机械条件) 室温下MS前后测试 - 后测试:IV (PS11) 和WBP (C2) 进行5个装置的测试 |
AEC-Q103-003 | 微机电系统 (MEMS)麦克风器件 | 3批次中各取12个 | 3个脉冲,0.5毫秒持续时间,在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室温下进行震动前后测试。 |
AEC-Q104 | 多芯片模块 (MCM) | 15 | 仅Y1平面,5次冲击,脉冲持续时间0.5ms峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。 |
接受条件:0失效
测试方法:JEDEC JESD22-B110
标准 | 测试对象 | 测试数量 | 测试条件 |
AEC-Q100 | 集成电路 | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz (对数扫频) >4min,每轴向4次;峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下 |
AEC-Q101 | 离散半导体 | 仅针对密封件 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g; |
AEC-Q102 | 离散光电半导体器件 | 3批次中各取10人 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g; |
AEC-Q103-002 | 微机电系统 (MEMS)压力传感器器件 | 3批次中各取39人 | M1等级: 20Hz~2000Hz~20Hz (对数扫频) >4min,每轴向4次;峰值加速度50g M2等级:10Hz~2000Hz~10Hz (对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g 备选方案:由任务文件制定 |
AEC-Q103-003 | 微机电系统 (MEMS)麦克风器件 | 3批次中各取12个 | 20Hz~2000Hz~20Hz (对数扫频) <12min,每轴向4次;峰值加速度20g;测试前后的性能检查在常温下 |
AEC-Q104 | 多芯片模块 (MCM) | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz (对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下 |
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