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电子元器件老炼试验是电子工程中常用的可靠性测试方法，其主要目的是剔除早期失效的电子元器件产品，提高系统整体的可靠性。通过在较长时间内对元器件施加电应力与热应力，老炼试验加速了元器件内部潜在缺陷的暴露，从而确保出厂产品的质量和稳定性。

老炼试验的特点

老炼试验是一种加速早期失效机理发生的非破坏性试验。它主要有以下几个特点：

1. 非破坏性测试：老炼试验通过激发电路中的潜在缺陷，而不引发新的失效机制或改变失效分布。

2. 100%覆盖测试：原则上，老炼试验应对电路整体进行100%的测试，确保每个元器件都经过严格筛选。

3. 改善使用可靠性：虽然老炼试验不能改变电路的固有可靠性，但它能提高电路的使用可靠性，使产品更稳定地进入使用周期的中期阶段。

4. 应力水平高于使用环境：为了缩短试验时间，老炼试验中的应力水平通常高于元器件实际使用时的应力水平。

5. 适应性选择：试验条件根据电路的可靠性要求和失效机理特性进行选择，以实现最佳测试效果。

老炼试验的阶段

老炼试验通常包括三个阶段：老炼前测试、老炼试验、老炼后测试。

1. 老炼前测试：进行基本的电参数和功能测试，以剔除存在明显质量缺陷的器件，避免浪费测试资源。

2. 老炼试验：在老炼板上施加电应力和热应力，将电路置于高温环境中，以加速早期失效的发生。

3. 老炼后测试：对经过老炼的电路进行全面测试，确保电路的电参数稳定性和功能性达到设计要求。测试包括常温、低温和高温环境下的直流和交流参数测试。

老炼试验方法

老炼试验分为静态老炼、动态老炼和老炼中测试三种方法。

- 静态老炼：只给电路提供电源电压，不施加信号向量。此时，电路内部晶体管基本处于反偏状态，主要用于诱发与杂质污染相关的失效机制。

- 动态老炼：在提供电源电压的同时，施加适当的信号向量，使电路内部节点翻转。动态老炼能够更全面地激发电路中的潜在缺陷。

- 老炼中测试：将老炼与电性能测试结合，通过采样老炼板上器件的输入、输出信号，实现实时功能测试。

老炼试验标准

我司具备依据以下标准进行电子元器件老炼试验的能力：

- GJB128B-2021 《半导体分立器件试验方法》

- GJB548C-2021 《微电子器件试验方法和程序》

- GJB920A-2002 《膜固定电阻网络, 膜固定电阻和陶瓷电容器的阻容网络通用规范》

- GJB63C-2015 《有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范》

- GJB733B-2011 《有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范》

- GJB603A-2011 《有失效率等级的铝电解电容器通用规范》

- GJB2283A-2014 《片式固体电解质钽固定电容器通用规范》

- GJB2829A-2013 《音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范》

通过严格的老炼试验，可以显著提高电子元器件的使用可靠性，减少早期失效的发生。江苏粤科检测是专业第三方电子元器件检测机构，专注电子元器件检测近二十年，可提供电子元器件及零部件的安规认证、老练筛选、车规级认证（AEC-Q100/101/102/103/104/200）、DPA测试、FA失效分析、环境可靠性验证等检测认证服务。

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