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在不清楚产品的实际可靠性之前，可以通过摸底测试，把容易出现失效的测试项，先单独考核一次。根据AEC-Q100项目的分组、及执行测试的具体要求，一般会认为HAST和HTOL属于高风险项，在正式申请AEC-Q100认证之前，先进行HAST和HTOL摸底测试，可有效提升通过率。

AEC-Q100认证摸底测试项目介绍

HAST试验

HAST（Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test ）高加速温度和湿度应力试验，该测试参考JEDEC JESD22-A110；在高温、高湿、有气压的环境中，同时施加电压偏置。该试验可导致金属化和焊盘腐蚀、界面分层、金属间化合物生长、键合失效和绝缘电阻降低。

在AEC Q100中，HAST分别有2个测试条件可供选择，即：130℃/85%RH/96小时，或110℃/85%RH/264小时；偏压部分，则必须通过测试板和直流电源搭配来实现，执行HAST时，粤科检测能够为客户提供包含测试板设计制作的整套服务。

HTOL测试

HTOL（High Temperature Operating Life）高温工作寿命测试，该测试参考JEDEC JESD22-A108，根据芯片的Grade等级，选取对应的测试温度，测试时长1000小时；因芯片封装结构各异，驱动要求多样化，在执行HTOL测试时，芯片必须通过socket、BIB板实现与测试机的电气连接，进而获取机台提供的电源、时钟、测试程序，芯片的输出信号也可以连接给测试机台，通过比对确认芯片的工作状态。

粤科实验室提供AEC-Q车规级认证方案

在进入汽车电子市场方面，寻找经验丰富的实验室来协助客户了解车规、制定相应的AEC-Q验证步骤与试验方法，并成功地进入车厂供应链，是非常关键的。优科实验室在汽车电子可靠性测试验证与失效分析方面拥有15年的累积经验，并且已经协助众多客户成功进入汽车电子市场，能够为您提供全面的车规级验证方案。

粤科实验室具备AEC-Q100/101/102/103/104/200标准检测资质和检测能力，可提供车规级集成电路、分立半导体器件、光电半导体器件、传感器、被动元件等汽车电子元件AEC-Q检测认证服务。我们可依据产品使用条件和质量指标，定义符合汽车电子质量要求的测试计划，助力客户快速进入汽车电子市场。

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