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军用元器件筛选机构

文章来源 : 粤科检测 发表时间:2023-11-13 浏览量:

军用元器件筛选机构

对于航空航天等军工科研领域用户而言, 二次筛选是军用电子元器件质量与可靠性管控的重要环节, 是保障航空航天领域高可靠性元器件质量和稳定性的重要途径。

江苏粤科检测是专业第三方军用元器件筛选机构,实验室具备电子元器件GJB筛选CNAS检测资质和检测能力,可提供集成电路、分立器件、电阻器、电容器、电连接器等电子元器件二次筛选服务。


军用元器件筛选机构


军用元器件筛选依据

军用电子元器件的筛选主要依据GJB7243-2011《军用电子元器件筛选技术要求》进行,标准中规定了集成电路、电阻器、电连接器等18大类43小类的电子元器件筛选方法、程序及要求。

除非另有规定,筛选应遵循原则(GJB7243-2011中4.1条)

a)破坏性试验不能作为元器件试验项目;

b)筛选所加的应力(电应力、机械应力、环境应力等)不得超过产品规范规定的元器件额定应力。

应力过大将改变产品原有的失效机理或产生新的失效模式,应力过小(虽然未超过产品规定的额定应力),但又能剔除早期失效的产品,所以对于应力的选择应采用最有效激发早期失效的应力作为筛选应力(不增加产品新的失效机理、失效模式,产品能正常工作)。


元器件二次筛选适用范围

不适当的二次筛选不仅会增加企业成本, 还会对元器件使用可靠性造成影响, 减少器件使用寿命, 因此元器件二筛不应滥用、 泛用, 应当明确二筛适用范围如下:

1. 电子元器件制造厂商在出厂时未对元器件进行一次筛选, 或一次筛选实施过程不符合相关质量控制要求;

2. 一次筛选由于工艺或水平限制, 不符合用户方质量需求;

3. 用户方对一次筛选结果存在疑虑, 需进一步确保质量时;

4. 一次筛选的方案设计无法满足用户方对元器件的质量要求时。


我司可开展以下标准电子元器件二次筛选服务

GJB 7243-2011 《军用电子元器件筛选技术要求》

GJB 360B-2009 《电子及电气元件试验方法》

GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》

GJB 33A-1997 《半导体分立器件总规范》

GJB 5018-2001 《半导体光电子器件筛选与验收通用要求》

GJB 597B-2012 《半导体集成电路通用规范》

GJB 244A-2001 《有质量等级的薄膜固定电阻器总规范》

GJB 2828-1997 《功率型线绕固定电阻器总规范》

GJB 3015-1997 《有可靠性指标的非线绕预调电位器总规范》

GJB 920A-2002 《膜固定电阻网络,膜固定电阻和陶瓷电容器的阻容网络通用规范》

GJB 1432B-2009 《片式膜固定电阻器通用规范》

GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定电容器通用规范》

GJB 191B-2009 《含宇航级云母固定电容器通用规范》

GJB 63C-2015 《有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范》

GJB 2283A-2014 《片式固体电解质钽固定电容器通用规》

GJB 733B-2015 《有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范》

GJB 603A-2011 《有失效率等级的铝电解电容器通用规范》

GJB 1433-1992 《瓷介微调可变电容器总规范》

GJB 1214A-2009 《含宇航级金属化塑料膜介质密封固定电容器通用规范》

GJB 601B-2018 《热敏电阻器通用规范》

GJB 1782A-2015 《压敏电阻器通用规范》

GJB 264A-2011 《机械滤波器通用规范》

GJB 1511A-2012 《压电陶瓷滤波器总规范》

GJB 2600A-2009 《声表面波器件通用规范》

GJB 1518A-2015 《射频干扰滤波器总规范》

GJB 1508-199 《石英晶体滤波器总规范》

GJB 5850-2006 《小型熔断器通用规范》

GJB 734A-2002 《旋转开关通用规范》

GJB1512A-2011 《按钮开关通用规范》

GJB 809B-2013 《微动开关通用规范》

GJB 1217A-2009 《电连接器试验方电电连接器试验方法连接》

GJB 2446A-2011 《外壳定位微矩形电连接器通用规范》

GJB 1438A-2006 《印制电路连接器及其附件通用规范》

GJB 681A-2002 《射频同轴连接器通用规范》

GJB 599B-2012 《耐环境快速分离高密度小圆形电连接器总规范》

GJB 65B-1999 《有可靠性指标的电磁继电器总规范》

GJB 1515B-2017 《固体继电器总规范》

GJB 1517A-2011 《恒温继电器通用规范》

GJB 1513A-2009 《混合和固体延时继电器通用规范》

GJB 1461A-2017 《含可靠性指标的电磁继电器总规范》

GJB 2449-1995 《塑封通用电磁继电器总规范》

GJB 2888A-2011 《有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范》

GJB 1042A-2002 《电磁继电器总规范》

GJB 2829A-2013 《音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范》

GJB 1864A-2011 《射频固定和可变片式电感器通用规范》

GJB 5025-2003 《射频固定和可变电感器通用规范》

GJB 2138A-2015 《石英晶体元件总规范》

GB/T17940-2000 第Ⅱ篇 《半导体器件 集成电路第 3 部分:模拟集成电路》

GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 《半导体器件集成电路第 2 部分:数字集成电路》

SJ20646-1997 《混合集成电路 DC/DC 变换器测试方法》

GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路第 2 部分:数字集成电路第Ⅳ篇》

GB/T14028-2018 《半导体集成电路 CMOS 电路测试方法的基本原理》

GB/T14030-92 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半导体分立器件和集成电路第 7 部分:双极型晶体管》

GB/T4586-1994 第Ⅳ章 《半导体器件 第 8 部分 场效应晶体管》

GB/T4023-2015 《半导体分立器件第 2 部分:整流二极管》

GB/T6571-1995 第Ⅳ章 《半导体器件分立器件第 3 部分:信号(包括开关)和调整二极管》

SJ/T2215-2015 《半导体光电耦合器测试方法》

GJB 675A-2002 《有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范》

SJ/T 10805-2018 《半导体集成电路 电压比较器测试方法》

GJB1515B-2017 《固体继电器总规范》


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