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AEC-Q102认证功率温度循环(PTC)试验条件及试验要求

文章来源 : 粤科检测 发表时间:2024-07-09 浏览量:

功率温度循环(Power Temperature Cycling, PTC)试验是确保半导体器件在极端温度环境中长期可靠性的重要手段。本文介绍了AEC-Q102认证下的PTC试验条件及试验要求。


车载激光雷达芯片AEC-Q102认证机构.jpg


试验名称

功率温度循环(Power Temperature Cycling,PTC)


试验条件

依据AEC-Q102标准,PTC试验的具体条件如下:

- 环境温度(Ta):-40℃至105℃

- 停留时间:每个极值温度下停留10分钟

- 转换时间:从一个极值温度转换到另一个极值温度的时间为20分钟

- 电流条件(If):560 mA

- 循环通电:通电和断电周期为5分钟

- 保持时间:总共进行1000个温度循环


样品数量

- 每批次样品数量:26个器件

- 总共批次:3批次


试验信息

- 参考方法:JEDEC JESD22-A 105 C

- 通电情况:560 mA,循环通电(on / off = 5 min)

- 极值温度:-40℃/ 105℃(停留时间:10 min;转换时间:20 min)

- 试验时间:1000温度循环

- 光电参数测试节点:在0循环(初测)、100循环、500循环和1000循环(终测)时进行光电参数测试


仪器设备

- 光电参数测试系统

- 半导体分立器件测试系统

- 温度速变湿热试验箱

半导体分立器件测试系统.jpg


试验要求

在PTC试验中,光电参数的合格判据如下:

参数符号合格判据测试条件
光通量Φ±20%If=280mA
色坐标Cx±0.01If=280mA
色坐标Cy±0.01If=280mA
正向电压Vf±10%If=280mA
正向电压(10%额定电流)Vmin±10%If=28mA


通过严格的功率温度循环(PTC)试验,AEC-Q102认证确保了半导体器件在极端温度条件下的可靠性和耐久性。江苏粤科检测作为专业的第三方测试机构,提供全面的AEC-Q102 PTC试验服务,帮助客户确保其产品在各种严苛环境下的高性能表现。


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